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镀涂层测量仪膜厚测量仪镀膜测量仪DHM-200C
一:蔡康镀涂层测量仪膜厚测量仪镀膜测量仪DHM-200C概述和镀层检测方法和应用范围:
(一)镀层显微测量方法国家标准:GB/T 6462-2005金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法
(二)镀涂层厚度测量方法及其原理
镀层厚度测试检测材料表面的金属和氧化物覆层的厚度测试。
检测方法有 1. 金相法 2. 库仑法 3. X-ray 方法。
1. 金相法:
使用范围:采用金相显微镜检测横断面,以测量金属覆盖层、氧化膜层的局部厚度的方法。一般厚度检测需要大于1um,才能保证测量结果在误差范围之内;厚度越大,误差越小。

测试原理:利用金相显微镜原理,对镀层厚度进行放大,以便准确的观测及测量。

测试要求:需要借助镀层截面照片来测量,由于金相法测样品的厚度为局部厚度,对于一些厚度不一致的样品,需要客户指
定具体部位。如没有特殊要求,我们将自行取一个较均匀的部位进行测量。

2. 库仑法:

使用范围:适合测量单层和多层金属覆盖层厚度阳极溶解库仑法,包括测量多层体系,如Cu/Ni/Cr以及合金覆盖层和合金化扩散层的厚度。不仅可以测量平面试样的覆盖层厚度,还可以测量圆柱形和线材的覆盖层厚度,尤其适合测量多层镍镀层的金属及其电位差。测量镀层的种类为Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。

测试原理:利用适当的电解液阳极溶解精确限定面积的覆盖层,电解池电压的急剧变化表明覆盖层实质上完全溶解,经过所耗的电量计算出覆盖层的厚度。因阳极溶解的方法不同,被测量覆盖层的厚度所耗的电量也不同。用恒定电流密度溶解时,可由试验开始到试验终止的时间计算;用非恒定电流密度溶解时,由累积所耗电量计算,累积所耗电量由电量计累计显示。


测试要求:目前我们只能测平面的镀层厚度,样品需要至少一个5mm2平面。

3. X-ray 方法:

使用范围:适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。 包括:金(Au),银(Ag),锡(Sn),铜(Cu),镍(Ni),铬(Cr)等金属元素厚度。 本测量方法可同时测量三层覆盖层体系,或同时测量三层组分的厚度和成分。

测试原理:X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射,这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量(若密度已知,则为覆盖层线性厚度)和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知,同时又给出实际的密度,则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。

测试要求:其面积至少大于0.05×0.25mm。
蔡康镀涂层测量仪DHM-200C主要采用金相法的原理来进行测量。
(三)蔡康镀涂层膜厚测量仪技术介绍和仪器组成

(1)--测量镀层厚度的膜厚测量仪|镀层测厚仪|膜厚测量仪DHM-200C

    上海蔡康光仪器厂膜厚测量仪DHM-200C可用于鉴别和分析各种金属和合金材料及非金属的合成结构及镀涂层测量,广泛应用于化装品包装,电路板合成、汽车镀涂层和工业生产线上有镀涂层产品物质观察测量。如化装品包装袋、集成电路、电子芯片、电路板、液晶板、薄膜的镀涂层测量及对一些表面状况进行研究分析的工作等。本仪器系工业生产线、科研机构、中高等院校等的理想仪器。而镀层厚度质量的检测对产品至关重要,针对这种情况,上海蔡康光学仪器厂专业研发设计了针对国家标准(GB/T 6462-2005金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法)膜厚检测系统DHM-200C,该系统配备样品金相切割机,金相预磨机,金相抛光机,化学处理试剂,镀层测量系统DHM-200C及平面膜后测量系统DS-3000。膜后测量仪可以对镀层产品截面进行成像,编辑,测量,数据导出,及报告打印等。汽车零部件镀层产品检测行业广泛采用我厂镀膜测量系统,下面是上海蔡康光学仪器厂的产品实际切割,拍摄及测量结果,此套系统相比同类产品具有成像清晰,对比度高,精度高的特点,能实现最完美的真彩观察和照相效果.高精度焊接熔深显微测量。

蔡康光学镀膜测量仪实测图片4

(2)蔡康膜厚测量仪DHM-200C性能特点和系统组成:

1. DHM-200C膜厚测量仪利用工业级彩色高速摄象器进行图像或者视频采集,高倍蔡康光学金相显微镜放大成像,图像快速显示于计算机,直接实时观察熔深焊接形貌,利用专用软件进行熔深测量处理,形态统计分析,并打印出熔深分析报告。

型号:DHM-200
技术参数
目镜
大视野 WF10X(Φ20mm)
明暗场物镜
无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片)PL 5X/0.12
无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片)PL L10X/0.25
无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片)PL L20X/0.60 (弹簧 spring)
无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片)PL L40X/0.75 (弹簧 spring)
目镜筒
三目镜,倾斜30˚(内置检偏振片,可进行切换)
落射照明系统
12V 50W卤素灯,亮度可调
落射照明器带视场光栏、孔径光栏、起偏振片,(黄,蓝,绿)滤色片和磨砂玻璃
透射照明系统
阿贝聚光镜 NA.1.25 可上下升降
蓝滤色片和磨砂玻璃
集光器,卤素灯照明适用(内置视场光栏)
12V 30W 卤素灯,亮度可调
调焦机构 粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,带锁紧和限位装置
转换器
四孔(内向式滚珠内定位)
载物台
三层机械移动式(尺寸:280mmX270mm,移动范围:204mmX204mm)
 
1、镀层测量显微镜 DHM-200
2、电脑适配镜
3、数字彩色摄像机
4、熔深测量系统
5、镀层样品处理设备(选购)

四、蔡康镀涂层测厚仪检测工艺和样品处理方法


(1)掌握镀层测厚仪测量镍镀层厚度的方法。
(2)采用蔡康膜厚测试仪测量镍镀层的厚度。
(3)测量原理,利用金相法测定镀层厚度,就是把试样断面进行镶嵌、抛光和浸蚀,将浸蚀过的试片放在具有一定放大倍率的显微镜下检查被测试样的断面,并通过内置标尺来测量金属镀层及氧化物覆盖层的局部厚度和平均厚度。该法具有精度高、重现性好等特点,但操作比较复杂。 金相法测厚是一种破坏性测量方法。通常作为镀层厚度的精确测量,也被人们作为镀层厚度测量方法中的仲裁方法。采用本法测量厚度大于25微米时,合理的误差均为5%或者更小。
(4)主要仪器和药品:蔡康膜厚测量仪DHM-200C、金相研磨机、金相抛光机、金相抛光膏、电吹风、砂纸(100#、180#、300#、500#、600#、800#0。 环氧树脂、乙二胺、乙醇(95%)、硝酸、镍镀层试样。
(5)检测流程和内容:蔡康膜厚测量仪的校准——取样(从电镀镍试样上切取试样)——(除油——水洗——活化——水洗—— 镀铜(10微米厚)——水洗——吹干)——试样镶嵌——研磨——抛光——水洗——喷酒精——吹干——浸蚀——水洗——喷酒精——吹干——上膜厚测量仪观察,测量厚度
1、 仪器 经过校准的带有测微目镜的金相显微镜。
2、 取样 一般可从零件主要表面上的一处或几处切取试样,除特殊规定外,切割部位庆是具有代表性的部位,切割方式庆不影响 测量的准确性。
3、 试样镶嵌 镶嵌前,为了防止覆盖层断面边缘倒角,镀层上心可能再加镀不小于10微米的其他镀层作为支撑层,以保护待测镀层的边缘,支撑覆盖层的硬度应接近原有的镀层硬度,颜色应与等测镀层有区别。如检查镍层用铜层作保护层。 对于可受微热和微压的镀层可采用胶木粉、聚氯乙烯粉等进行热镶嵌;受微压不而能受热的镀层则采机械夹持;不能受热和受压的镀层则采用冷镶嵌,即用室温下固化的塑料镶嵌,常用的材料有环氧树脂(6101)100克,乙二胺8克。
4、 研磨和抛光 保持被研磨的表面垂直于镀层表面的是一个关键。每次研磨时间不超过40秒,最后在抛光盘上抛2~3分钟。 5、 浸蚀 为使试样断面清晰,显露出镀层和基体金属,抛光的试样应选择适当的浸蚀剂仔细地进行浸蚀,以便清晰地显示保护层、镀层和基体金属的界限。 钢铁上镍镀层的浸蚀液配方:硝酸(d=1.42)5亳升+乙醇(95%)95亳升。
(6)用验证或标定过的载物台测微计校准显微镜及测量装置。把处理好的镍镀层试样放在具有测微的膜厚测量仪的载物台上,用镜内标尺测量镍镀层横断面图像的宽度。在同一位置上,每次测量至少是三次读数的平均值。如需要测定平均厚度,则应在镶嵌试样的全部长度上测5点,取其算术平均值。使用放大倍数为:镀层厚度为20微米以上,用200倍;镀层厚度20微以以下,用500倍。
主销产品:
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