半导体冷热台

简要描述：半导体冷热台与各类显微镜、光谱仪、扫描电镜等光学仪器设备联用，进行变温下的光学观察及测试。实现样品开放式 / 气密 / 真空环境下的变温光学观察及测试。

产品型号：CKL150-30
产品产地：
更新时间：2026-07-22
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详细介绍

一、仪器用途：

该半导体冷热台系统以热电半导体为核心温控组件，并集成循环水散热系统，可实现-30℃至120℃（具体范围依选型而定）的精确温度控制。该系统专为材料在变温环境下的物性研究设计，可直接用于变温光学观测；若选配探针选件，还可同步实现变温条件下的电学测试。设备需与专用温度控制器配套使用，其配备的7英寸便于直接进行温度设置与数据采集，并支持客户定制化需求。

二、仪器主要技术参数：

型号	CKL120 - 30	CKL150 - 30
加热制冷方式	帕尔贴半导体（TEC）
散热方式	水冷
温控范围	-30~120℃（可定制）		-30~150℃（可定制）
温度精度	0.1℃
升温速率	0.1～20℃/min
降温速率	0.1～20℃/min
样品台尺寸	40×40mm
样品台材质	铜质
加热台台体材质	铝合金
观察窗口	石英玻璃 / 光学玻璃
物镜工作距离	4mm
透光孔	默认无透光孔
外形尺寸	120×106×30mm
真空功能	可选，常压为主
气体氛围	空气、氮气
通讯接口	USB / RS232
控制模式	恒温（可编程温度曲线）
供电	AC220V 50Hz

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